광학,전자영상장비 CS보정 주사형 투과 전자현미경
CS보정 주사형 투과 전자현미경
JEM-ARM 200F(ARM)
시설장비활용번호Z-202304297474
시설장비등록번호NFEC-2012-02-153757
시설장비표준분류투과전자현미경
- 장비활용서비스연세대학교 산학협력단
- 장비문의 032-749-5821
- 예약문의 02-2123-7444
- 이용요금200,000원 ( 시간당 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Jeol (JEM-ARM200F)
- 구축일자2011년 07월 13일
- 사용용도시험
- 표준분류광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
- 설치장소인천광역시 연수구 송도과학로 85 (송도동) 과학로 F1 106-2
- 장비설명ARM(Cs-TEM)은 구면수차를 보정 할 수 있는 수차보정장치(Cs-Corrector)로 가속된 전자beam을 시료에 투과/주사하여 시료의 미세영역 분석
- 구성 및 성능- 용도 설명
전계 방사형 투과 주사 전자현미경(FE-STEM)은 일반 광학 현미경으로는 관측이 불가능한 물질의 미세영역까지도 관측할 수 있다. 광학 현미경에서의 광원은 자연광을 이용하나 전자 현미경은 전자총에서 발생된 전자 빔(Beam)을 집속시켜 시료의 미세영역 에 조사(Illumination)한 다음 시료를 투과한 전자들을 전자기렌즈를 이용해서 확대시킨 후 형광판에 비추어 물질의 형상을 만들어 낸다. FE-STEM은 물질의 미세영역에 있는 내부구조 및 형태를 확인하고 그 결정들이 가지고 있는 다양한 성질들을 알아내는데 유용하게 사용된다.
- 사용/활용예그 적용 범위는 재료관련 학문뿐만 아니라 생태학, 생물학을 비롯하여 의학, 면역학등 거의 모든 분야에서 사용되며 고분해능 작업을 요하는 곳에서는 필수적인 장비이다. 또한 X-선 분석기나 EELS를 부착시켜 관측하고자 하는 시료의 미세영역에 대한 정성, 정량분석도 할 수 있어 분석적 목적으로의 확장도 가능하다.
