광학,전자영상장비 고해상도 전자현미분석기
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고해상도 전자현미분석기
Field Emission Electron Probe Micro Analyzer
시설장비활용번호Z-201812149319
시설장비등록번호NFEC-2013-10-183175
시설장비표준분류주사전자현미경
- 장비활용서비스극지연구소
- 장비문의 -
- 예약문의 032-770-8735
- 이용요금0원 ( 시간당 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Jeol (JXA-8530F)
- 구축일자2013년 05월 24일
- 사용용도시험
- 표준분류광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
- 설치장소인천광역시 연수구 송도미래로 26 (송도동) 송도미래로26 F4층 R1-420호(나노표면분석실)
- 장비설명FE-전자현미분석기(FE-EPMA)는 운석 구성광물의 화학조성을 정량분석하는 기기로 시료 파괴를 최소화하는 미세분석 기술을 요하는 운석 연구에는 필수적임 남극운석 분류 및 국제기구 등록을 위한 구성 광물화학 분석(운석 큐레이션 시스템 가동 및 국제 공인 획득을 위한 필수 업무)
- 구성 및 성능1) Schottky type FE(Field Emission) electron gun 장착 (3 nm급 해상도 구현): 기존 전자현미분석기 대비 해상도 10배 이상 향상
2) Nano-size 분석가능 운석 미세구조 관찰 및 신종광물 연구
3) WDS 최소 4대 장착 : 경원소(4Be)에서 중원소(92U)까지 분석능력 확보 필수
4) 통합된 WD/ED 시스템 : 향상된 정량분석 원소분포도(element mapping) 작성 구현
- 사용/활용예
