광학,전자영상장비 원자현미경
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원자현미경
Atomic Force Microscope
시설장비활용번호Z-kitech-00279
시설장비등록번호NFEC-2013-11-183919
시설장비표준분류주사탐침현미경
- 장비활용서비스한국생산기술연구원
- 장비문의 032-226-1357
- 예약문의 041-589-8573
- 이용요금70,000원 ( 시료수 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)㈜파크시스템스 (NX10)
- 구축일자2013년 11월 06일
- 사용용도시험
- 표준분류광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
- 설치장소인천광역시 연수구 갯벌로 12 (송도동) 갯벌타워 504호 F5층 502
- 장비설명- Scan range of XY : 50 μm
- Scan range of Z : 15 μm
- Z Resonant Frequency: < 9 KHz
- Noise floor of Z : 0.03 nm
- Working range of XY : 20 mm×20 mm
- Sample size : 50 mm×50 mm h20 mm
- Sample weight : 500 g
- Vision lens : 10×
- Optical resolution : 1μm
- 구성 및 성능초미세 탐침(cantilever)을 시료 표면에 가까이 가져갔을 때 발생하는 원자 간 상호 작용력을 측정하는 기기로 원자지름의 수 십 분의 일(0.01nm)까지 측정이 가능하고
미세한 시료 표면형상을 3차원적으로 측정할 수 있음
- 사용/활용예
