광학,전자영상장비 주사전자현미경
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주사전자현미경
Scanning Electronic Microscope
시설장비활용번호Z-201812149320
시설장비등록번호NFEC-2012-02-153614
시설장비표준분류주사전자현미경
- 장비활용서비스극지연구소
- 장비문의 -
- 예약문의 032-770-8735
- 이용요금0원 ( 시간당 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Jeol (JSM-6610)
- 구축일자2011년 03월 24일
- 사용용도시험
- 표준분류광학/전자영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
- 설치장소인천광역시 연수구 송도미래로 26 (송도동) 송도미래로26 F1층 R1-420호(나노표면분석실)
- 장비설명주사전자 현미경은 전자선(electron beam)을 시료 표면에 주사하여 발생한 이차전자(secondary electron)를 수집하여 그 신호를 영상화하는 장비로 최대 20만배 이상의 배율로 ㎛이하의 미세한 물질의 화학성분에 따른 영상정보 및 준정량 화학정보를 얻어낼 수 있는 장비이다.
- 구성 및 성능운석의 구성광물은 대부분 미립(㎛이하 - 수십 ㎛)으로 일반 광학현미경으로는 광물 및 조직 관찰이 용이하지 않다.
기본적으로 부착되어 있는 후방산란 전자검출기(Back-scattered electron detector BSE)로 이차이온영상(SEM)과 결부 광물 및 조직의 화학성분에 따른 영상이미지를 확보할 수 있다.
- 사용/활용예
