광학,전자영상장비 전계방사형 투과전자현미경(FE-TEM)
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전계방사형 투과전자현미경(FE-TEM)
Field Emission Transmission Elelctron Microscope
시설장비활용번호Z-201901248989
시설장비등록번호NFEC-2008-04-051787
시설장비표준분류투과전자현미경
- 장비활용서비스인하대학교 산학협력단
- 장비문의 032-860-8669
- 예약문의 032-860-8669
- 이용요금160,000원 ( 시간당 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Jeol (JEM-2100F)
- 구축일자2006년 02월 23일
- 사용용도시험
- 표준분류광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
- 설치장소인천광역시 미추홀구 인하로 100 인하대학교 B1층 60주년-043
- 장비설명특징
고전압으로 가속된 짧은 파장의 전자선을 시편에 투과시킨 후 투과전자 회절전자 X-선 등을 이용하여 미소 영역의 상과 결정구조 및 화학적 성분등을 분석하는 기기
- 구성 및 성능구성및성능
Resolution : TEMpoint 0.23nm TEMLattic image 0.24nm STEM 1nm EDS : Oxford INCA Energy Camera : Ulitascan CCD Acc. Voltage : 200kV Magnification : TEM 50~1500000 STEM 100~150000000 EELS : Enfina1000
- 사용/활용예
