화합물전처리,분석장비 엑스선 회절 분석기 (XRD)
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엑스선 회절 분석기 (XRD)
Multi-Purpose X-ray Diffractometer
시설장비활용번호Z-201901223799
시설장비등록번호NFEC-2013-07-181132
시설장비표준분류X-선회절분석기
- 장비활용서비스인하대학교 산학협력단
- 장비문의 032-860-8671
- 예약문의 032-860-8671
- 이용요금30,000원 ( 시료수 )
본문
장비정보
Information
- 제작사명(모델명)Panalytical (Pro MRD)
- 구축일자2013년 06월 10일
- 사용용도시험
- 표준분류화합물전처리/분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
- 설치장소인천광역시 미추홀구 인하로 100 (용현동) 253 B1층 60주년-003
- 장비설명X-선 회절분석은 미지의 시료 속에 있는 결정상들의 정성 및 정량분석을 위하여 사용되는 장비이다. X-선관(X-Ray Tube)으로부터 발생된 단색 X-선을 시료에 조사하면 시료내의 결정상은 Bragg법칙에 따라 고유한 각도에서 회절된다. 이때 X-선이 검출되는 각도와 세기는 해당 결정상을 특징짓는 고유한 것으로 이 측정 자료로부터 미지의 결정상을 확인할 수 있다. 특히 X-선 회절분석장치는 일반적인 X-선 회절장치에 사용되는 X-선을 여러 가지 광학장치(Crystal등)를 이용하여 더욱 X-선에 대한 분해능을 높인 장 치로서 이것을 이용하여 시료의 결정구조 분석과 박막분석(박막결정구조 두께 및 박막 계면의 거칠기) 결정구조의 왜곡 및 결정의 배향 등을 분석할 수 있다.
- 구성 및 성능Detector
- XE Detector : 박막 측정용 일반적인 검출기
- X'celerator : 반도체 검출기 128개 Fixel로 이루어져 측정시간 단축
Sample Stage
- Flat Stage
- Spinner Type Stage
- 사용/활용예
